JIS C 5402-16-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-2部分:触点和终端的机械试验.试验16b:受限制的入口
名称：JIS C 5402-16-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-2部分:触点和终端的机械试验.试验16b:受限制的入口 标准格式：rar 大小：N/A 2013-05-20
JIS C 5402-16-4-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-4部分:触点和终端的机械试验.试验16d:抗拉强度(压接连接器)
名称：JIS C 5402-16-4-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-4部分:触点和终端的机械试验.试验16d:抗拉强度(压接连接器) 标准格式：rar 大小：N/A 2013-05-20
JIS C 5402-16-5-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-5部分:触点和终端的机械试验.试验16e:量规保持力(弹性触点)
名称：JIS C 5402-16-5-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-5部分:触点和终端的机械试验.试验16e:量规保持力(弹性触点) 标准格式：rar 大小：N/A 2013-05-20
JIS C 5402-16-7-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-7部分:触点和终端的机械试验.试验16g:压接后触点变形的测量
名称：JIS C 5402-16-7-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-7部分:触点和终端的机械试验.试验16g:压接后触点变形的测量 标准格式：rar 大小：N/A 2013-05-20
JIS C 5445-2012 电子设备用机电开关.第1部分:总规范
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JIS C 5630-6-2011 半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
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JIS C 5750-3-4-2011 可靠性管理.第3-4部分:应用指南.可靠性要求的规范指南
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JIS C 5750-4-3-2011 可靠性管理 第4-3部分:系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序
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JIS C 5750-4-4-2011 可靠性管理 第4-4部分:系统可靠性的分析技术 故障树形图分析
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JIS C 5860-2012 光束传输用无源元件通则
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